» Control nedistructiv » Controlul grosimii stratului acoperitor » Masurarea grosimii de strat si analiza spectrala in Raze X (XRF) » Masurarea Grosimii De Strat Si Analiza Spectrografica Cu Fischerscope X-ray Xdlm-pcb 220

Masurarea grosimii de strat si analiza spectrografica cu FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB 220

Masurarea grosimii de strat si analiza spectrografica cu FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB 220
  • Masurarea grosimii de strat si analiza spectrografica cu FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB 220
Spectrometru cu raze X pentru masurare si analiza a materialelor: FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB 220

Instrument aplicabil universal datorită diafragmelor interschimbabile și a filtrelor primare;
Tub de raze X Micro-focus și tub proporțional detector de raze X;
Masă deplasabila in axele X/Y programabila motorizata, deplasare maxima 450 x 300 mm (17,7 x 11,8 in)

Domenii tipice de aplicare:
Măsurătorile de acoperiri funcționale în electronică și industria semiconductoare
Determinarea compoziției din băi de galvanizare
Măsurători automate, de exemplu, în controlul calității

Pentru a trimite cererea vă rugăm completați informațiile de mai jos:

Accept termenii de utilizare a sitului


Produse asemănătoare