Masurarea grosimii de strat si analiza spectrografica cu FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB 220

Spectrometru cu raze X pentru masurare si analiza a materialelor: FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB 220

Instrument aplicabil universal datorită diafragmelor interschimbabile și a filtrelor primare;
Tub de raze X Micro-focus și tub proporțional detector de raze X;
Masă deplasabila in axele X/Y programabila motorizata, deplasare maxima 450 x 300 mm (17,7 x 11,8 in)

Domenii tipice de aplicare:

Măsurătorile de acoperiri funcționale în electronică și industria semiconductoare
Determinarea compoziției din băi de galvanizare
Măsurători automate, de exemplu, în controlul calității