Spectrometru cu raze X pentru masurarea grosimii de strat si analiza a materialelor : FISCHERSCOPE X-RAY XULM-PCB
Instrument "entry-level" robust, cu diafragma și filtru fixe, tub de raze X micro-focus, tub proporțional ca detector de raze X și suprafata de expunere proba fixa.
Opțiuni:
Extensie suprafetei pentru probe pentru a mări suprafața utilizabilă de plasare a esantionului pina la 1200 x 630 mm (47 x 24 in)
Directie de măsurare: de jos în sus, aceasta permite poziționarea rapidă și ușoară a mostrei.
Domenii tipice de aplicare:
Măsurători de acoperiri diferite în electronică și industria de semiconductoare;
Determinarea compoziției din băi de galvanizare;
Etc.