Masurarea grosimii de strat si analiza spectrografica cu FISCHERSCOPE XDV-SDD

• Analizor XRF universal premium pentru măsurători automate ale acoperirilor foarte subțiri (< 0,05 μm) și pentru analiza materialelor fine în intervalul sub per mil conform ISO 3497 și ASTM B 568
• Tub microfocalizat cu anod de tungsten
• Deschidere variabilă de 4 ori pentru condiții de măsurare optimizate
• Filtru modificabil de 6x pentru condiții optime de excitație pentru sarcini mai complexe
• Detector de drift de siliciu (SDD) extrem de puternic, cu o suprafață efectivă foarte mare de 50 mm².
• Procesor digital de impulsuri DPP+ pentru rate de numărare mai mari, timpi de măsurare reduși sau o mai bună repetabilitate a rezultatelor măsurătorilor dvs.
• Analiza elementelor de la Al(13) la U(92)
• Înălțimi ale probelor de până la 14 cm
• Etaj XY programabil de înaltă precizie, programabil, cu precizie de poziționare de < 5 µm pentru măsurători automate pe structuri mici 
• Metoda DCM pentru o ajustare simplă și rapidă a distanței de măsurare
• Instrument complet protejat, cu aprobare de tip în conformitate cu legislația actuală privind protecția împotriva radiațiilor

Domenii tipice de aplicații

• Măsurarea acoperirilor funcționale în industria electronică și a semiconductorilor, de exemplu, măsurarea grosimii acoperirilor de aur până la 2 nm.
• Analiza acoperirilor subțiri și foarte subțiri în industria electronică și a semiconductorilor, de exemplu, acoperiri de aur/paladiu de ≤ 0,1 µm
• Determinarea sistemelor multistrat complexe
• Măsurarea acoperirilor din materiale dure
• Măsurarea grosimii straturilor de acoperire în industria fotovoltaică
• Analiza urmelor de substanțe periculoase, cum ar fi plumbul și cadmiul, în conformitate cu RoHS, WEEE, CPSIA și alte directive pentru electronice, ambalaje și bunuri de consum
• Analiza și testarea autenticității aurului și a altor metale prețioase, precum și a aliajelor acestora
• Determinarea directă a conținutului de fosfor în acoperiri funcționale de NiP

Un echipament polivalent de calibru mare

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD este unul dintre cele mai puternice instrumente de fluorescență cu raze X din portofoliul Fischer. Acest spectrometru XRF este echipat cu un detector cu drift de siliciu (SDD) de înaltă rezoluție și puternic, cu o suprafață efectivă de 50 mm². Acest lucru vă permite să măsurați chiar și cele mai subțiri straturi cu precizie și în mod nedistructiv - de exemplu, acoperiri de aur cu o grosime de aproximativ 2 nm pe rame de plumb. 

În combinație cu noul procesor de impulsuri digitale DPP+, dezvoltat în cadrul companiei, puteți crește performanța măsurătorilor la un nou nivel. Acum pot fi procesate chiar și rate de numărare mai mari, ceea ce duce la timpi de măsurare mai scurți sau la o repetabilitate îmbunătățită a rezultatelor măsurătorilor dumneavoastră.

În același timp, XDV-SDD este perfect potrivit pentru analiza nedistructivă a materialelor. De exemplu, sensibilitatea sa de detectare a urmelor de plumb în plastic este de aproximativ 2 ppm - cu câteva ordine de mărime mai mică decât valorile cerute de RoHS sau CPSIA. Pentru a crea condiții ideale pentru fiecare măsurare XRF a grosimii stratului de acoperire, XDV-SDD dispune de colimatoare și filtre primare schimbabile, ceea ce permite lucrul la nivel științific. Dispozitivul extrem de robust, cu panoul său de control intuitiv, este ușor de utilizat prin intermediul unui joystick și al butoanelor și este conceput special pentru testele în serie în uz industrial.

Înainte de marcare, pentru piesele cu volum mare sau piese de testare de mari dimensiuni: Măsurați conținutul de aur în mod rapid și fiabil
Examinați în mod fiabil aliajele sau metalele prețioase pentru cele mai mici diferențe cu noul FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD.

Obțineți analize extrem de precise, pe baza cărora puteți face declarații fiabile cu privire la valoarea lingourilor de aur, a monedelor sau a bijuteriilor.