Brand

HELMUT FISCHER (14)

Domeniu de utilizare

Analiza materialelor (14)Cercetare și dezvoltare (14)Industria aeronautică (14)Industria auto (14)Industria electronică (14)Tehnica de măsurare (14)Tratare termică (14)Turnătorie (14)

Masurarea grosimii de strat si analiza spectrala cu Raze X (XRF)

Energia dispersiva si spectroscopia fluorescenței in raze X (XRF) este o metodă de măsurare a grosimii stratului acoperirilor și pentru analiza materialelor. Aceasta poate fi folosita pentru determinarea calitativă și cantitativă a compoziției primare a unei probe de material, precum și pentru măsurarea acoperirii și a sistemelor de acoperire. În ambele medii, laborator și industrial, spectroscopia fluorescentei (XRF) este bine stabilita și poate fi ușor utilizata cu ajutorul echipamentelor moderne.
Instrumentele FISCHERSCOPE® XRF au următoarele avantaje:
Nedistructiv:

Radiația X nu are absolut nici o influență de durată asupra materialelor; acestea își păstrează pe deplin calitatile.

Rapid:

Metoda XRF are nevoie de o pregătire minimala a probelor foarte simpla și o durată de măsurare foarte scurtă, în secunde, rareori mai mult de un minut.

Curat:

Nu se folosesc chimicale.

Siguranta:

Metoda fără utilizare de substanțe chimice periculoase pentru mediu,
Radiatia X nu prezintă nici un risc pentru operator datorită designului si sistemelor de protectie a instrumentului.

Aplicatii universale:

Metoda XRF este adecvată pentru analiza materialului și masurarea grosimii de strat într-o gamă foarte largă de aplicații.