Spectrometru cu raze X pentru masurare si analiza FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ PCB - GrimasControl SRL

Spectrometru cu raze X pentru masurare si analiza FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ PCB

Spectrometru cu raze X pentru masurare si analiza FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ PCB
  • Spectrometru cu raze X pentru masurare si analiza FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ PCB
Spectrometru cu raze X pentru masurarea grosimii de strat si analiza a materialelor FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-μ PCB

Echipat cu optica polycapilara cu raze X pentru măsurători pe componente foarte mici;
Punct de măsurare opțional aprox. Ø 20 pm (0,8 mii) sau Ø 10 pm (0,4 mii) FWHM la Mo-Kα;
Intensități foarte mari, prin urmare precizie mai buna chiar si pentru acoperiri foarte subțiri, precizie de măsurare <1 nm
Masă programabile in axele X/Y cu motor, deplasare maxima 450 x 300 mm (17,7 x 11,8 in)

Domenii tipice de aplicare
Măsurători de acoperiri funcționale în electronică și industria semiconductoare;
Măsurătorile privind componentele plate foarte mici și structuri de circuite imprimate;
Analiza de acoperiri foarte subțiri, de exemplu acoperiri de aur/paladiu de ≤ 0,1 pm (0.004 mils);
Determinarea sistemelo complexe multi-strat;
Măsurători automate, de exemplu, în controlul calității
Pentru a trimite cererea vă rugăm completați informațiile de mai jos:


Produse asemănătoare